• 公差配合與幾何精度檢測 = Tolerance fitting and measurement technology, 2nd ed.
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Tolerance fitting and measurement technology, 2nd ed.
    其他作者: 王宇平,
    出版地: 北京市
    出版者: 人民郵電出版社;
    出版年: 2012.10
    版本: 第2版
    面頁冊數: 3,[251]面圖,表格 : 26公分;
    標題: 測量 -
    標題: 機械 -
    附註: 工業和信息化高職高專"十二五"規劃教材立項項目
    摘要註: 書分為3篇,即三項基本精度、技術測量基礎和典型零件精度與檢測。內容包括:尺寸精度、幾何精度、表面精度、檢測基礎理論、三項基本精度檢測、滾動軸承精度與檢測、鍵聯接精度與檢測、圓錐精度與檢測、螺紋精度與檢測、圓柱齒輪精度與檢測等。
    ISBN: 978-7-115-28968-1
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
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  列印  083139 誠樸總館3F中文書區 一般圖書(BOOK) 一般圖書 440.919 8445 101 一般使用(Normal) 在架 0 0
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