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公差配合與幾何精度檢測 = Tolerance fitting and measurement technology, 2nd ed.
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Tolerance fitting and measurement technology, 2nd ed.
其他作者:
王宇平,
出版地:
北京市
出版者:
人民郵電出版社;
出版年:
2012.10
版本:
第2版
面頁冊數:
3,[251]面圖,表格 : 26公分;
標題:
測量 -
標題:
機械 -
附註:
工業和信息化高職高專"十二五"規劃教材立項項目
摘要註:
書分為3篇,即三項基本精度、技術測量基礎和典型零件精度與檢測。內容包括:尺寸精度、幾何精度、表面精度、檢測基礎理論、三項基本精度檢測、滾動軸承精度與檢測、鍵聯接精度與檢測、圓錐精度與檢測、螺紋精度與檢測、圓柱齒輪精度與檢測等。
ISBN:
978-7-115-28968-1
公差配合與幾何精度檢測 = Tolerance fitting and measurement technology, 2nd ed.
公差配合與幾何精度檢測
= Tolerance fitting and measurement technology, 2nd ed. / 王宇平主編 - 第2版. - 北京市 : 人民郵電出版社, 2012.10. - 3,[251]面 ; 圖,表格 ; 26公分.
工業和信息化高職高專"十二五"規劃教材立項項目高等職業院校機電類"十二五"規劃教材內容為簡體字參考書目:面[251].
ISBN 978-7-115-28968-1
測量機械
王, 宇平
公差配合與幾何精度檢測 = Tolerance fitting and measurement technology, 2nd ed.
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書分為3篇,即三項基本精度、技術測量基礎和典型零件精度與檢測。內容包括:尺寸精度、幾何精度、表面精度、檢測基礎理論、三項基本精度檢測、滾動軸承精度與檢測、鍵聯接精度與檢測、圓錐精度與檢測、螺紋精度與檢測、圓柱齒輪精度與檢測等。
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全部
誠樸總館3F中文書區
出版年:
卷號:
館藏
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一般圖書
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