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發明專利實體審查基準 = Guidelines for substant...
~
張仁平
發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent. 二
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent
作者:
張仁平,
出版地:
臺北市
出版者:
經濟部智慧財產局;
出版年:
2009.01
版本:
二版
面頁冊數:
[8],370面圖 : 21公分;
集叢名:
智慧財產培訓學院教材
標題:
專利 -
標題:
標準 -
附註:
指導單位:經濟部智慧財產局
ISBN:
978-986-00-7693-6
發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent. 二
張, 仁平
發明專利實體審查基準
= Guidelines for substantive examination of invention patent. 二 / 張仁平編著 - 二版. - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2009.01. - [8],370面 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 8).
指導單位:經濟部智慧財產局部份內容為英文二版3刷(2009.01)參考書目:面[367].
ISBN 978-986-00-7693-6
專利標準
發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent. 二
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館藏地:
全部
誠樸總館3F中文書區
出版年:
卷號:
館藏
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一般圖書
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