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奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspecti...
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汪若文
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Avanced nano-scale inspection technology
其他作者:
汪若文,
其他作者:
伍秀菁,
出版地:
新竹市
出版者:
國家實驗研究院儀器科技研究中心;
出版年:
2009.04
版本:
初版
面頁冊數:
[24],654面圖 : 27公分;
標題:
奈米技術 -
附註:
含參考書目及索引
ISBN:
978-986-81409-5-0
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
奈米檢測技術
= Avanced nano-scale inspection technology / 伍秀菁,汪若文編輯 - 初版. - 新竹市 : 國家實驗研究院儀器科技研究中心, 2009.04. - [24],654面 ; 圖 ; 27公分.
含參考書目及索引.
ISBN 978-986-81409-5-0
奈米技術
汪, 若文
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
LDR
:00706nam0 2200217 4500
001
60701
005
20230119112416.0
009
00000176
010
0
$a
978-986-81409-5-0
$b
精裝
$d
新臺幣950元
100
$a
20090828d2009 m y0chiy50 e
101
0
$a
chi
102
$a
TW
105
$a
a a 001yy
200
1
$a
奈米檢測技術
$d
Avanced nano-scale inspection technology
$z
eng
$f
伍秀菁,汪若文編輯
205
$a
初版
210
$a
新竹市
$d
2009.04
$c
國家實驗研究院儀器科技研究中心
215
0
$a
[24],654面
$c
圖
$d
27公分
300
$a
含參考書目及索引
510
1
$a
Avanced nano-scale inspection technology.
$z
eng
606
$a
奈米技術
$3
15067
$2
csh
$3
116168
681
$a
440.7
$b
8665
$v
2007年版
702
$a
汪
$b
若文
$4
編輯
$3
23013
702
$a
伍
$b
秀菁
$4
編輯
$3
23012
801
0
$a
TW
$b
臺東專校
$c
20090828
$g
CCR
801
1
$a
TW
$b
臺東專校
$c
20090828
$m
4
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館藏地:
全部
誠樸總館3F中文書區
出版年:
卷號:
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
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誠樸總館3F中文書區
一般圖書（BOOK）
一般圖書
440.7 8665 98
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