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發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Guidelines for substantive examination of invention patent
作者:	張仁平,
其他作者:	謝銘洋,
出版地:	臺北市
出版者:	經濟部智慧財產局;
出版年:	2007.02
面頁冊數:	2冊圖 : 21公分;
集叢名:	智慧財產培訓學院教材
標題:	專利 - 標準 -
附註:	含參考書目及附錄
ISBN:	978-986-00-7693-6
內容註:	國際法規與案例彙編, 1,

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent
張, 仁平

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent / 張仁平,謝銘洋編著 - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007.02. - 2冊 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 47,8).
國際法規與案例彙編.
含參考書目及附錄第一冊,初版;第二冊,二版部份內容為英文.
ISBN 978-986-00-7693-6ISBN 978-986-00-7893-0ISBN 986-00-7693-6ISBN 986-00-7893-9
專利 -- 標準

謝, 銘洋

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent
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010 0 $a 986-00-7693-6 $b 第二冊:平裝 $d 新臺幣450元
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館藏地: 出版年: 卷號:

館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

尋書單

典藏地名稱

館藏流通類別

059661

誠樸總館3F中文書區

一般圖書（BOOK）

一般圖書

440.61 8765 96 v.1

一般使用(Normal)

在架

0

0

059662

誠樸總館3F中文書區

一般圖書（BOOK）

一般圖書

440.61 8765 96 v.2

一般使用(Normal)

在架

0

0

2 筆 • 頁數 1 •
1

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