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全球奈米技術專利趨勢分析 = Longtudinal Patent an...

Zan Huang

全球奈米技術專利趨勢分析 = Longtudinal Patent analysis for nanoscale science and engineering :country, institution and technology field : 國家, 機構與技術領域

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Longtudinal Patent analysis for nanoscale science and engineering :country, institution and technology field
副題名:	國家, 機構與技術領域
合作者:	Zan Huang
其他作者:	羅於陵,
出版地:	臺北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	民92
版本:	一版一刷
面頁冊數:	彩圖 : 30公分;
附註:	STIC-RSR-092-01
ISBN:	957-619-093-2

全球奈米技術專利趨勢分析 = Longtudinal Patent analysis for nanoscale science and engineering :country, institution and technology field : 國家, 機構與技術領域
全球奈米技術專利趨勢分析 = Longtudinal Patent analysis for nanoscale science and engineering :country, institution and technology field : 國家, 機構與技術領域 / Zan Huang等原著 ; 羅於陵 - 一版一刷. - 臺北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 民92. ; 彩圖 ; 30公分.
STIC-RSR-092-01.
ISBN 957-619-093-2

Zan Huang

羅, 於陵

全球奈米技術專利趨勢分析 = Longtudinal Patent analysis for nanoscale science and engineering :country, institution and technology field : 國家, 機構與技術領域
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200 1 $a 全球奈米技術專利趨勢分析 $d Longtudinal Patent analysis for nanoscale science and engineering :country, institution and technology field $e 國家, 機構與技術領域 $f Zan Huang等原著 $g 羅於陵 $g 鄭凱安編譯
205 $a 一版一刷
210 $a 臺北市 $d 民92 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心
215 a $c 彩圖 $d 30公分
300 $a STIC-RSR-092-01
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605 $2 csh $a 奈米技術 $3 13219
681 $a 440.7 $b Z36
701 $a Zan Huang $4 等原著 $3 26879
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703 $4 編譯 $a 鄭 $b 凱安
801 0 $a cw $b 臺東專校 $c 20060707