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原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...
~
汪島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Patent analysis of atomic force microscope
作者:
汪島軍,
出版地:
臺北市
出版者:
科資中心;
出版年:
民93
版本:
第一版
面頁冊數:
[12],125面彩圖 : 30公分;
集叢名:
奈米科技專利研究系列
標題:
奈米技術 -
標題:
電子顯微鏡 -
附註:
STIC-RPR-093-04
ISBN:
957-619-117-3
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
汪, 島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析
= Patent analysis of atomic force microscope / 汪島軍等作 - 第一版. - 臺北市 : 科資中心, 民93. - [12],125面 ; 彩圖 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 第8輯).
STIC-RPR-093-04參考書目: 面63附錄:1,AFM專利摘要表;2,AFM系統整體技術群聚專利引用關係(群聚A).
ISBN 957-619-117-3
奈米技術電子顯微鏡
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館藏地:
全部
誠樸總館3F中文書區
出版年:
卷號:
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
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一般圖書
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