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發明專利實體審查基準 = Guidelines for substant...

張仁平

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent. 一; 1. 國際法規與案例彙編; compilation of international regulations and case studies

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Guidelines for substantive examination of invention patent
作者:	張仁平,
其他作者:	謝銘洋,
出版地:	臺北市
出版者:	經濟部智慧財產局;
出版年:	2009.01
版本:	初版
面頁冊數:	[6],306面圖 : 21公分;
集叢名:	智慧財產培訓學院教材
標題:	專利 -
標題:	標準 -
附註:	部份內容為英文
ISBN:	978-986-00-7893-0

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent. 一; 1. 國際法規與案例彙編; compilation of international regulations and case studies
張, 仁平

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent. 一, 國際法規與案例彙編 / 張仁平,謝銘洋編著 - 初版. - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2009.01. - [6],306面 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 47).
部份內容為英文初版3刷(2009.01)參考書目:面[303]指導單位:經濟部智慧財產局.
ISBN 978-986-00-7893-0
專利標準

謝, 銘洋

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent. 一; 1. 國際法規與案例彙編; compilation of international regulations and case studies
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